光学计量的干涉条纹分析理论、算法和应用 |
发布于:2015/09/02 |
本书论述了光学计量学中经典和现代干涉测量法的理论原理和实际应用。本书的新颖之处是频率转换函数(FTF)的应用,以及干涉条纹分析中随机过程的理论;这些数学工具能更好地描述各种相位解调算法,并获得较理想的光谱响应、失谐不灵敏性、信噪比的稳健性以及谐波排斥性。 本书共6章:1.数字化的线性系统;2.同步时序干涉测量法;3.异步时序干涉测量法;4.带载体的空间方法;5.不带载体的空间方法;6.相位的展开。本书目录的后面有术语缩写表,本书末尾的附录介绍了线性相位移动算法的理论以及各种线性相位移动算法;此外,还有参考文献目录以及主题索引。 本书第一著者M.塞尔万博士是墨西哥光学研究中心的研究人员。他的研究兴趣包括:干涉测量法、光学计量学、应用光学、光学成像、激光光学、估算和测量理论、计量学、方法的稳健性、优化法以及各种算法等。他曾在以上领域发表过一百多篇论文及著作。 本书论述了干涉条纹测量及分析的理论、计算方法及应用。可作为物理系大学生或研究生的参考书,也是相关领域研究工作者有益的参考书。 刘克玲,退休研究员 (中国科学院过程工程研究所)来源:国外科技新书评介
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