新型光学多通道分析仪
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新型光学多通道分析仪
2005/11/25  
    您好:
我设计了一种光学多通道分析仪,可以快捷方便的拍摄发射光谱,吸收光谱等,可快速多次测量求均值,还可测量出物质的绝对吸收系数等.和日本岛津UV 3101PC高精度分光光度计测量后的结果高度一致。专利号200510101270.2(发明专利)和200520067333.2(实用专利)。该专利可以打破美国EG&GPARC等公司的专利和市场垄断。

      本发明相对于现有技术具有以下突出的实质性特点和显著的进步:
1.采用全新的光路设计,使得机械运动的误差不会对测量的结果产生影响,或者是产生误测的结果;
2.设有用于提高测量准确性和稳定性的测量控制器,方便了测量的人工控制,减少了测量的误差,符合新一代科学测量仪器的标准;
3.设有绝对吸光系数计算器,进一步提高测量仪器的应用能力,能够直接给出所测量物质的绝对吸光系数,简化了科学测量的过程,提高了产品的易用性;
4.可以设置任意多次的测量,求统计值;并可直接得出物质的绝对吸收系数等物理量;
5.摄谱和分析速度非常快,均可在瞬间完成。

从商业角度出发,本发明具有如下的优势:
1. 结构简单,且在同等测量精度的条件下对设备加工制造工艺要求较现有通用仪器低。
2. 对原配件的要求低,所以克服了现有商用仪器价格昂贵的特点,降低了生产制造成本,提高了市场竞争力。
3. 能够生产该类型的厂家很少,如EG&GPARC,英国Princeton等,国内就少数几个大型的科研单位有配置,原因是太贵了,达几百万人民币之多。而我们的产品价格降到其1/10,也算暴利!
4. 应用范围相当广,各类科研单位,印染、医药、冶炼等行业都有广阔的市场。

   手工制作的样机各项参数为:CCD探测器的感光窗口大小为1/3’,感应分辨率为510*492像素;光栅的参数:刻痕密度 600线/毫米,曲率半径 1200mm;光谱测量范围:380nm~670nm;分辨率为汞谱线576nm和578nm清晰可辨;最小可分辨的波长间隔为0.67nm;测量误差:强度相对误差<0.02%,透过率、吸收率相对误差<0.04%,吸光度相对误差<4%。以上测量参数都是在刻痕密度为600线/毫米情况下测量得到的,如用更高精密度的光栅,测量结果会更好。

  附图为一些测量结果的曲线图。其中的比较是和日本岛津UV-3101PC高精度分光光度计的比较,其价格相当昂贵,达一百多万人民币,但扫一条曲线需要2分钟左右,而我手工制作的仪器只需要几秒钟。如果有兴趣,可以看更多的实验结果,比如发射光谱的测量结果,其他物质的吸收情况结果等。也可以联系洽谈合作方式.小灵通02089281314.
   王勇

专利种类: 发明
申请日: 2005/11/17
法律状况: 申请中
专利申请号: 200510101270.2
技术报价: 面议
转让方式: 技术入股 专利权转让
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