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专利技术:基于激光全息成像法 分析颗粒形状的装置
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专利技术:基于激光全息成像法 分析颗粒形状的装置
2016/11/05
本实用新型涉及颗粒分析技术领域,公开了一种基于激光全息成像法 分析颗粒形状的装置。所述装置包括激光器、显微镜头、光阑、透明观测件和图像传感器,其中,所述透明观测件中开有流体出入孔道。利用激光全息成像法直接对待测流体中的颗粒进行经干涉作用而产生的全息成像信息,然后对全息成像信息进行数据反演处理,即可得到反映颗粒形状的空间成像信息,由此无需使用滤膜,可避免样品受到污染,进而可以减小测量误差和耗材费用,简化设备的操作过程。此外,所述装置还具有实时性强、颗粒分辨率高和检测对象广的优点,便于实际应用和推广。
专利种类:
实用新型
可行性分析:
已由相应机构作出分析报告
法律状况:
已授权
专利号:
ZL 201620270670.X
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